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三维形貌仪
双模式三维表面形貌仪能够在同一测试平台上运行多种测试,产品的组合可根据不同的技术应用要求而改变。针对样品的同一区域可进行不同模式的实验检测,模式切换可实现全自动化。多项技术的整合能够使不同技术在同一检测仪上充分发挥各自的优势。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析,也可以减少维护成本,从而提高效率。


 

三维形貌仪概述


先进的Rtec 三维形貌仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。只需单击按钮,就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明平坦黑暗扁平弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势,并且所有技术彼此互补。

 

3D光学轮廓仪组合


l白光干涉仪

l旋转盘共聚焦显微镜 

l暗视野显微镜

l明视野显微镜 

 

主要平台规格


        产品规格

l标准电动平台150x150mm(可选210x310mm)

l标准转塔,电动转塔可选

l垂直范围可达100mm

l倾斜阶段6度

lXY舞台分辨率0.1um

l自动拼接楷模

lSigma头 - 仅限白光干涉仪

lLambda头 - 白光干涉仪+共焦+暗场+明场


      应用

      粗糙度  ●体积磨损   ●台阶高度   薄膜厚度   形貌

 

测试图像示例


              

             DLC涂层球                        粗糙涂层表面                             圆球磨斑

             

                    金刚石                                生物膜                              微流体通道

               

                    聚合物涂层                             墨痕                                   硬币

             

                      研磨垫                          铝的失效痕迹                             划痕

             

                       涂层失效痕迹                     芯片通道                              晶圆

        

以上为双模式三维表面形貌仪拍出的样品形貌。在同一平台上结合使用多种光学技术,测试仪可以测量几乎任何类型的nm分辨率样品。该表面光度仪配有功能强大的分析软件,符合多种标准。双模式三维表面形貌仪能够在同一测试平台上运行多种测试,产品的组合可根据不同的技术应用要求而改变。针对样品的同一区域可进行不同模式的实验检测,模式切换可实现全自动化。多项技术的整合能够使不同技术在同一检测仪上充分发挥各自的优势。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析,也可以减少维护成本,从而提高效率。




脚注信息
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